FaceID

Han pasado un par de meses desde la presentación del tan esperado Iphone X coincidiendo con el décimo aniversario del primer Iphone a manos de Steve Jobs. Entre otras novedades se presentó la evolución de la identificación por huella, conocida como Touch ID, por el nuevo Face ID, el sistema que utiliza el rostro para desbloquear el terminal.

La inclusión de esta tecnología levantó numerosos interrogantes acerca de la fiabilidad de este sistema, aunque apple aseguró:

Sigue siendo una probabilidad de una en un millón que una persona desbloquee tu iPhone con Face ID

Habiendo hecho pruebas incluso con gemelos idénticos y máscaras profesionales. Apple afirmó que el sistema Face ID incluye defensas incluso contra ataques biométricos. A continuación, una cita relevante al respecto extruida de su guía de seguridad:

Una red neuronal adicional que está entrenada para detectar y resistir la suplantación de identidad se defiende contra los intentos de desbloquear su teléfono con fotos o máscaras.

FaceID-test

Estas declaraciones no hicieron otra cosa que dar el pistoletazo de salida a una carrera entre empresas de seguridad y grupos de hackers para ser el primero en burlar este sistema. En esta ocasión no ha sido otra que le empresa de seguridad vietnamita Bkav Corp la que ha conseguido regatear el ya mencionado Face ID con una máscara creada para tal efecto. Para crear esta careta se han metido en la coctelera unos 150 dólares en material, técnicas de impresión 3D y modelado manual como podemos ver a continuación:

Puedes estar tranquilo, es necesaria tu colaboración

Este experimento no deja de ser una anécdota para la gran mayoría de usuarios puesto que es necesario la colaboración del dueño del terminal para trabajar en el modelado de la ya citada máscara. Sólo para grandes directivos, puestos gubernamentales o trabajos muy sensibles este hecho puede suponer un potencial problema. Ante este hecho imaginamos que Apple podrá ajustar su Face ID para solucionar este problema.

Si tenéis más curiosidad podéis ver esta entrevista a los responsables de la prueba desde su propia web.

Sobre El Autor
Alfonso J. Ramón